GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗為GB/T 17626 電磁兼容 試驗和測量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第三部分。
     GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗適用于電氣、電子設(shè)備的電磁場輻射抗擾度試驗，它規(guī)定了試驗等機構(gòu)和必要的試驗程序。
     本部分的目的是建立電氣、電子設(shè)備受到射頻電磁場輻射時的性能評定依據(jù)。本部分第5章固定的頻率以外不需要進行試驗。對某些將來可能出現(xiàn)的無線電方面的新業(yè)務(wù)可能會降低電氣和電子設(shè)備的性能，因此有可能其他的頻段也規(guī)定試驗等級。
     本部分適用于一般目的的用的抗干擾度試驗，對防止數(shù)字無線電話的射頻輻射有專門規(guī)定。
     GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗并不對具體設(shè)備或系統(tǒng)的試驗作規(guī)定。本部分的主要目的是為有關(guān)專業(yè)表轉(zhuǎn)化技術(shù)委員會提供一個通用的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)時應(yīng)該根據(jù)其產(chǎn)品選擇合適的試驗等級。
     GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-3:2002（第2.1版本）《電磁兼容 試驗和測量量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗》，該標(biāo)準(zhǔn)基于IEC 61000-4-3:2002（第2版）+修正案A1（2002）制定。
     GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗依據(jù)GB/T 20000.2-2001《標(biāo)準(zhǔn)化工作指南 第2部分：采用國際標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)則》進行下列編輯性修改；刪除IEC61000-4-3:2002（第2.1版本）的前言和引言，并將有關(guān)內(nèi)容寫入本部分前言中。
     GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗自實施之日起代替GB/T 17626.3-1998《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗》。

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